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ZnO是六方晶系纖鋅礦結構,其化學鍵處于離子鍵與共價鍵的中間鍵型狀態,氧離子以六方密堆,鋅離子占據一半的四面體空隙,鋅和氧都是四面體配位。ZnO是相對開放的晶體結構,開放的結構對缺陷的性質及擴散機制有影響,所有的八面體間隙和一半的四面體間隙是空的,正負離子的配位數均為4,所以容易引入外部雜質,ZnO熔點為2248,密度為5.6g/cm3,純凈的ZnO晶體,其能帶由02-的滿的2p電子能級和Zn2+的空的4s能級組成,禁帶寬度為3.2~3.4eV,因此,室溫下,滿足化學計量比的純凈ZnO應是絕緣體,而ZnO中常見的缺陷是金屬填隙原子,所以它是金屬過剩(Zn1+xO)非化學計量比n型半導體。
Eda等認為,在本征缺陷中,填隙鋅原子擴散快,對壓敏電阻穩定性有很大影響。
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氧化鋅壓敏電阻器是一種以氧化鋅為主體、添加多種金屬氧化物、經典型的電子陶瓷工藝制成的多晶半導體陶瓷元件。氧化鋅陶瓷是由氧化鋅晶粒及晶界物質組成的,其中氧化鋅晶粒中摻有施主雜質而呈N型半導體,晶界物質中含有大量金屬氧化物形成大量界面態,這樣每一微觀單元是一個背靠背肖特基勢壘,整個陶瓷就是由許多背靠背肖特基墊壘串并聯的組合體。
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氧化鋅壓敏電阻器已廣泛應用于過電壓保護、浪涌吸收、過電流泄放等方面,是防護電氣電子設備因受雷電閃擊及其他瞬態電磁干擾造成傳導過電壓危害的有效器件,它的性能直接影響安全保護效果。因氧化鋅壓敏電阻在系統或設備運行中必然存在老化劣化現象,
故必須對其進行定期檢測,以防止老化劣化產品仍工作在系統或設備中。然而,目前檢測方法所判定的壓敏電壓U1mA和漏電流I
leakage兩個參數都存在拐點效應,即只有當MOV劣化到一定程度后,U1mA和Ileakage才會出現顯著變化;而在這個拐點之前U1mA和
Ileakage都符合SJ/T10349-93測試標準的要求[8],這就給檢測結果帶來不確定性。某個產品自身已經老化劣化到一定程度需要及時更換,但U1mA和Ileakage檢測值仍然合格。
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