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通流容量：

通流容量是指施加規定波形的沖擊電流和沖擊次數，沖擊后壓敏電壓的變化小于或等于規定值時所能通過的電流。它和脈沖幅度，脈沖持續時間及應用中所要承受的脈沖次數有關，可從降額曲線中查得。測量時一般施加8*20μs或2ms的方波。

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ＺｎＯ　壓敏電阻的微觀結構分析發現，形成的四個主要 成分是　ＺｎＯ、尖晶石、焦綠石和一些富　Ｂｉ　相（圖　３）。圖 中也指明了組分存在的部位，還存在一些用現有技術尚不 易檢測出來的其它次要相。 ＺｎＯ　壓敏電阻的典型晶粒尺寸在１５和２０μｍ　之間， 并且也總是伴有雙晶。ＳｉＯ２的存在抑制晶粒生長，而　ＴｉＯ２　 和　ＢａＯ　則加速晶粒長大。尖晶石和焦綠石相對晶粒長大有 抑制作用。焦綠石相在低溫時起作用，而尖晶石相在高溫 時有利。當用鹽酸浸蝕晶粒時，中間相呈現出在電性上絕 緣的三維網絡。 燒結形成的　ＺｎＯ　晶粒是　ＺｎＯ　壓敏電阻的基本構成單純　ＺｎＯ　是具有線性　Ｉ－Ｕ　特性的非化學計量　ｎ　型半導 體。進入　 ＺｎＯ　 中的各種添加物使其具有非線性。這些氧 化物中主要是　 Ｂｉ ２Ｏ３。這些氧化物的引入，在晶粒和晶粒 邊界處形成原子缺陷，施主或類施主缺陷支配著耗盡層， 而受主和類受主缺陷支配著晶粒邊界狀態。相關的缺陷類 型是鋅空位（Ｖ Ｚｎ＇、Ｖ Ｚｎ＇＇）、氧空位（Ｖ ｏ 、Ｖ ｏ ）、填隙鋅

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壓敏電阻連續工作電壓壽命，即壓敏電阻在規定環境和系統電壓條件下應能可靠地工作規定的時間（h）。由于壓敏電阻總是承受著穩態工作電壓應力的作用，壓敏電阻的壽命是與漏電流密切相關的。在不發生機械或其他電氣性能失效的情況下，壓敏電阻的壽命主要由漏電流IR（密度JR）及其溫度、電壓和時間的上升情況所決定。隨著漏電流IR（密度JR）升高，發熱量增大，若這個能量不能散失，元件的溫度會很快上升，這種元件在維持一段初始穩定狀態后，終將達到熱失控（擊穿）的溫度而結束其使用壽命。

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