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壓敏電阻直流作用下的老化機理
直流作用下。反偏壓側的Zni向晶界遷移,中和了部分VZn,使表面受主態(tài)密度下降,勢壘降低,阻性電流增大。直流電壓作用下的老化不對稱,是因為測試電壓極性如與老化時加的電壓一致,電壓主要加在正極性側的耗盡層上,而這一側可遷移的填隙鋅離子已不多;如極性相反,則電壓主要加在另一側的耗盡層上,而這側有大量的填隙鋅離子,所以阻性電流大。
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低電場區(qū)域的漏電流
漏電流包括阻性和容性兩部分,交流電壓下容性電流比阻性電流大得多。溫度升高或電場增大,阻性電流增大。壓敏電壓的溫度系數(shù)在-10-4/℃—-10-3/℃之間,計算公式如下:
T=dU1mA/(U1mAdT)
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預擊穿區(qū):是指在此區(qū)域內,施加于壓敏電阻器兩端的電壓小于其壓敏電壓,其導電屬于熱激發(fā)電子電導機理。因此,壓敏電阻器相當于一個10MΩ以上的絕緣電阻,這時通過壓敏電阻器的阻性電流僅為微安級,可看作為開路。該區(qū)域是電路正常運行時壓敏電阻器所處的狀態(tài)。
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